本书共十二章：章综述了焦平面成像探测技术的发展现状和趋势；第二章讨论了电控液晶微光学结构包括微透镜阵列的基本特征；第三章分析了液晶基波前成像探测的基本属性；第四章研究了基于波前成像的景深扩展基本问题；第五章主要开展了基于波前成像的物空间深度测量方法研究；第六章论述了液晶基光场成像探测的基本属性与特征；第七章主要进行了基于电调光场成像的运动参数测量方面的关键问题；第八章主要针对液晶基光场与平面一体化成像问题开展基础性研究；第九章主要涉及红外光场成像用石墨烯基电控液晶微透镜阵列的基本特性；第十章讨论了液晶基偏振成像探测的基本属性与特征；第十一章论述了基于扭曲向列相液晶的偏振光场成像属性基本问题；第十二章主要开展了石墨烯基电控液晶微透镜与偏振光场成像方面的基础方法研究。