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半导体器件电离辐射总剂量效应

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半导体器件电离辐射总剂量效应

作者:陈伟 编著
出版社:科学出版社
ISBN:978-7-03-070039-1
出版年:2022

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半导体器件电离辐射总剂量效应 简介
本书主要介绍空间辐射环境与效应、体硅CMOS器件电离辐射总剂量效应、双极器件电离辐射总剂量效应、SOI器件电离辐射总剂量效应、电离辐射总剂量效应模拟试验方法、MOS器件电离辐射总剂量效应预估、纳米器件电离辐射总剂量效应与可靠性、系统级电离辐射总剂量效应等内容。

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