本书主要介绍这三大要素的分析技术及其它相关分析技术。结构分析技术主要为衍射技术, 包括晶体的投影与倒易点阵、X射线的物理基础、单晶体和多晶体X射线衍射分析、电子衍射 (高能电子衍射TEM、HRTEM和低能电子衍射LEED)、电子背散射衍射EBSD和中子衍射ED等。形貌分析技术包括扫描电子显微镜SEM、扫描透射电子显微镜STEM、扫描隧道电镜STM及原子力显微镜AFM。成分分析技术主要包括特征电子能谱 (俄歇电子能谱AES和X光电子能谱XPS)、特征X射线能谱 (电子探针EDS)、荧光X射线能谱XRF及光谱分析 (原子光谱、分子光谱等)。其它分析技术简要介绍热分析技术, 包括热重分析TGA、差热分析DTA和差示扫描量热分析DSC。书中研究和测试的材料包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料等。并列题名：Advanced analysis technologies for materials eng