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一板成功:高速电路研发与设计典型故障案例解析

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一板成功:高速电路研发与设计典型故障案例解析

作者:张晶威 编著
出版社:清华大学出版社
ISBN:978-7-302-58923-5
出版年:2022

10(已有人评分)

一板成功:高速电路研发与设计典型故障案例解析 简介
本书是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍, 通过对电子工程设计中的实际故障案例分析, 帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案, 内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。

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