全书共分为七章, 主要包括: 诱发单粒子效应的空间辐射环境, 介绍了能够诱发产生单粒子效应的几种空间辐射因素; 辐射与半导体材料相互作用, 论述了重离子、质子及脉冲激光与半导体材料的相互作用过程; 单粒子效应机理与分类, 主要对常见单粒子现象产生的基本过程和特征进行了分析说明; 单粒子效应测试方法, 详细介绍常见单粒子效应测试方法及辐射模拟源, 包括有关试验及加固保障测试标准与方法; 单粒子效应对器件及系统特性的影响, 介绍了单粒子效应引起的系统故障及其模拟注入分析方法; 单粒子效应减缓设计, 介绍了常见单粒子效应诱发系统故障的防护设计方法; 模拟试验与单粒子翻转率计算, 介绍了单粒子翻转率计算中涉及到的环境因素、模型和方法及不确定度分析等。并列题名：Single event effects of electronic devices and integrated circuits eng