本书共分9章。第1章, 主要介绍了自旋电子学和磁性半导体发展概况, 是全书的基础。第2章主要介绍了本书中涉及的实验样品的制备、样品测试技术原理以及实验方法, 为后续章节数据分析提供技术支撑。第3-8章, 采取静态和动态磁测量相结合的方法, 研究了加氢对非晶Ge基磁性半导体薄膜磁化强度和交换作用的影响; 利用范德堡四端法测试了非晶 (FeCo) xGe1-x薄膜以及4.0mm×4.0mm方形 (FeCo) 0.67Ge0.33/Ge异质结的电输运性质; 利用两端测试法垂直结面通电流测量了1.0mm×1.5mm的 (FeCo) 0.67Ge0.33/Ge肖特基异质结的整流效应和磁电阻效应。第9章, 全书的工作总结及后续研究展望。