本书共分6章：第1章介绍了研究背景和主要内容，对目前嵌入式处理器调试技术领域现状进行了概述，对多核处理器的调试挑战进行了分析；第2章对解决工程问题的通用调试方法进行了论述，重点讨论了集合与逻辑、概率与因果方法、逻辑树与故障树等方法，提出了基于概率故障树的推理，并特别讨论了质量归零的方法和步骤；第3章概述了调试的技术和工具，讨论了处理器调试的模型，提出了一套调试的理论模型和基于影响要素的调试方法论；第4章对嵌人式处理器系统的核心设计问题进行了分析论述；第5章结合10个经典调试案例，对软硬件多种调试过程进行了深入描述和剖析；第6章对大量调试案例进行了分类归纳并简要分析。