《半导体材料及器件辐射缺陷与表征方法》9787576705447.pdf-李兴冀等编著-电子书下载-云上书馆

下载本书 下载格式： pdf格式 epub格式 接收邮箱(本功能测试中)： 分享给好友: 半导体材料及器件辐射缺陷与表征方法; 作者：李兴冀等编著; 出版社：哈尔滨工业大学出版社; ISBN：9787576705447; 出版年：2023/7/1

半导体材料及器件辐射缺陷与表征方法简介

全书共分为4章，系统阐述了辐射诱导半导体缺陷的相关理论、数值模拟方法、表征技术及应用。空间辐射诱导缺陷是导致电子元器件性能退化的重要原因，然而辐射诱导缺陷的形成、演化和性质与半导体材料本身物理属性、器件类型及结构密切相关。

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